可靠性试验

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  • 【作者】刘明治 编著
  • 【关键词】电子元件 可靠性试验
  • 【出版社】电子工业出版社
  • 【出版日期】2004
  • 【ISBN】7-121-00210-8
  • 【中图分类号】 TN606
  • 【内容简介】本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念基础上,介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序等。全部展开
  • 【页码】332页
  • 【丛书名】电子元器件质量与可靠性技术丛书
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    浙江图书馆 长兴县图书馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
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