高可靠性航空产品试验技术

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  • 【作者】李金国 等编著
  • 【关键词】航天器 电子器件 可靠性试验
  • 【出版社】国防工业出版社
  • 【出版日期】2011
  • 【ISBN】978-7-118-07191-7
  • 【中图分类号】 V443
  • 【内容简介】本书内容包括:可靠性增长试验、可靠性增长摸底试验、环境应力筛选、加速试验、高加速寿命试验、可靠性鉴定试验等。全部展开
  • 【页码】17,329页
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    浙江图书馆 杭州图书馆 宁波图书馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
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