可靠性物理

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  • 【作者】姚立真 编著
  • 【关键词】电子元件 可靠性
  • 【出版社】电子工业出版社
  • 【出版日期】2004
  • 【ISBN】7-121-00209-4
  • 【中图分类号】 TN6
  • 【内容简介】本书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础;论述了失效的物理模型;介绍了元器件静电放电失效的原理和防护,元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。全部展开
  • 【页码】21,669页
  • 【丛书名】电子元器件质量与可靠性技术丛书
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    浙江图书馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
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