- [图书] 残余应力基础理论及应用
- 作者:高玉魁著
- 出版社:上海科学技术出版社
- 出版日期:2019
- ISBN:978-7-5478-4406-9
- 内容简介:本书共分7章。第1章阐述了残余应力的产生机理,并说明了残余应力的影响;第2章介绍了磁测法、超声波法、X射线法和中子衍射法等残余应力无损检测技术;第3章介绍了小孔法、深孔法、切槽法和...
- 丛书名:高端装备关键基础理论及技术丛书
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